TESCAN CLARA超高分辨場發射掃描電子顯微鏡 的分辨率可以達到亞納米級別，能夠揭示材料細微的結構。 TESCAN *的 Wide Field Opticls™ 技術幫助您在大視野下全方面了解樣品的構成（小放大倍數可至2倍），從而快速定位感興趣的區域。

TESCAN CLARA 在低電壓下仍保持了出色的分辨率，因而不僅適用于樣品極表面進行形貌觀察，同時也是表征光敏樣品和非導電樣品的理想選擇。 TESCAN CLARA ，不僅在低電壓下擁有非常高的分辨率，而且能夠通過選擇二次電子和背散射電子的不同襯度，來探索樣品可能包含的大量信息，因而是分析測試中心或材料科學研究實驗室選擇。

*的鏡筒內 BSE 探測器設計可以根據能量和角度不同選擇信號 
鏡筒內 BSE 探測器所安裝的特殊位置使得它可以同時采集不同 “出射”角度的背散射電子（BSE）。 Axial BSE 探測器收集近軸背散射電子信號，而 Multidetector（BSE）則收集中角背散射電子信號， 這兩個信號是明顯不同的。 通過 Axial BSE 探測器我們可以抑制不希望看到的由于樣品的表面形貌引起的干擾，從而觀察到材料成分襯度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射電子，獲得既有成分襯度又有形貌襯度的圖像，但更凸顯表面形貌的特點。 Multidetector 配有一個能量過濾器，可以實現二次電子信號和背散射電子信號的能量過濾，以便增強背散射電子的襯度。

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