DM 2700M金相顯微鏡由高質(zhì)量的徠卡光學(xué)元件以及*的通用白光 LED 照明組成。對(duì)于金相學(xué)、地球科學(xué)、法醫(yī)檢查以及材料質(zhì)控和研究來(lái)說(shuō)，它是進(jìn)行所有類型常規(guī)檢查的理想工具。徠卡 DM2700 M 向您展示了顯微鏡的簡(jiǎn)單可靠性，還能夠幫助您改進(jìn)工作流程。　　

    徠卡 DM2700 M 靈活的正置顯微鏡系統(tǒng)在所有對(duì)比法中均使用了 LED 照明：明場(chǎng)(BF)、暗場(chǎng)(DF) 、微分干涉差(DIC)、定性偏振 (POL)或熒光 (FLUO)應(yīng)用。它還提供了內(nèi)置式傾斜照明，能夠提高表面形貌和缺陷的可視度。徠卡 DM2700 M 金相顯微鏡還能夠根據(jù)情況裝配透射光軸。　　

    可選擇三種顯微鏡物鏡轉(zhuǎn)輪 - 外加一個(gè)0.7x的宏物鏡，您能通過(guò)它一眼看見(jiàn)約40mm長(zhǎng)的一個(gè)樣本，是進(jìn)行快速定位和概覽的理想選擇。　　

    能夠從徠卡顯微鏡載物臺(tái)的完備產(chǎn)品線中，為大小達(dá)到100 x100mm的樣本(例如箔片、晶片和 PCB)以及厚度達(dá)到80mm的樣本(例如機(jī)械元件)找到一種理想的載物臺(tái)進(jìn)行檢查。　　

    檢查電子元件

　　為滿足快速準(zhǔn)確地對(duì)硅片或 MEMS 進(jìn)行檢查、程序控制以及缺陷分析的要求，徠卡 DM2700 M 提供了高光學(xué)分辨率，能夠在樣本上檢測(cè)出哪怕細(xì)微的缺陷。LED 照明的恒定色溫使您總能在相同色彩下觀察樣本。　　

   DM 2700M金相顯微鏡在鋼檢驗(yàn)中篩選表面

　　工業(yè)質(zhì)控和缺陷檢查的工作環(huán)境總是充滿挑戰(zhàn)，徠卡 DM2700 M 結(jié)實(shí)的支架和堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)使其適合變化多端的工作環(huán)境。