德國斯派克分析儀器公司開發出了一種極其成功的技術，把偏振X射線應用于熒光分析。正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種*的分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發展這一技術，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

   XEPOS XRF光譜儀內部采用高性能部件，可獲得的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保激發，12位樣品自動交換器，預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

XEPOS XRF光譜儀配有預先安裝好的應用包，包括：在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。

   XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令。