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AXIS ULTRA DLD-X射線光電子能譜儀
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貨物所在地: 廣東惠州市
地: 原裝進口日本
更新時間: 2025-03-07 21:00:07
期: 2025年3月7日--2025年9月7日
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產品簡介

X射線光電子能譜儀采用平均半徑達165mm的大型靜電半球分析器與成像專用的球鏡分析器(Kratos)組合的合成分析器。在進行化學狀態分析、深度方向分析等的譜儀分析時,通過大型靜電半球分析器能夠提供高能量分辨率、高靈敏度的測定。多點微區測定時利用輸入透鏡內的光電子偏轉系統,能夠實現準確的點分析。 利用球鏡分析器進行平行成像。

詳細介紹

 

 

AXIS ULTRA DLD   X射線光電子能譜儀  日本島

產品信息 

AXIS ULTRA DLD是實時成像XPS的產品

-空間分辨率小于3μm- 

 

延遲線探測器(DLD)系統

    采用了研發的延遲線探測器。既可以生成譜圖又可以生成圖像。各測定模式均可以提供正確的脈沖計數。不僅可以在描譜儀模式下,通過128個檢測通道提供高靈敏度的測定,還可以不通過分析器的能量掃描,利用快速非掃描的“快照”譜儀模式瞬間測定窄掃描譜。成像模式能夠提供256×256像素、空間分辨率小于3μm的高分辨率圖像。 

 

可集成多種分析技術

    AXIS ULTRA DLD標準配備了具有多個標準窗口的樣品處理室,作為樣品的前處理腔,功能強大且擴展性強。能夠對應樣品加熱制冷及具有反應功能的樣品反應池,多樣品停放器等許多選購件。樣品分析室可以增加UPS、FE-AES、ISS等分析方法,可以組合成復合分析裝置。

平行成像和微區譜圖

    采用平均半徑達165mm的大型靜電半球分析器與成像的球鏡分析器(Kratos)組合的合成分析器。在進行化學狀態分析、深度方向分析等的譜儀分析時,通過大型靜電半球分析器能夠提供高能量分辨率、高靈敏度的測定。多點微區測定時利用輸入透鏡內的光電子偏轉系統,能夠實現準確的點分析。 利用球鏡分析器進行平行成像。光電子成像的空間分辨率小于3μm,能夠在譜儀測定的同時,極短時間內得到高分辨率圖像。

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