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詳細(xì)摘要： X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國(guó)產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測(cè)器），測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界*。 ...

詳細(xì)摘要： Ux-350 RoHS無鹵環(huán)保檢測(cè)儀屬華唯系列產(chǎn)品中的高*機(jī)型，三星電子使用機(jī)型，三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法V6.0分析軟...

詳細(xì)摘要： ROHS檢測(cè)光譜儀UX-220:配備進(jìn)口的探測(cè)器，分辨率性能*佳；X光管和電源經(jīng)銷款型，應(yīng)對(duì)歐盟RoHS和無鹵環(huán)保指令檢驗(yàn)*可以滿足。 采用華唯RoHS8.0軟...

詳細(xì)摘要： ROHS檢測(cè)光譜儀UX-310:自動(dòng)化的操作系統(tǒng)、人性化的操作界面，通過鼠標(biāo)即可完成全程操作（真空控制、原級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器、二次濾光片、樣品及測(cè)試區(qū)域定位、樣品...

詳細(xì)摘要： Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，其分辨率為149...

詳細(xì)摘要： X射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌：本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量，Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測(cè)系統(tǒng)，眾...

詳細(xì)摘要： 能量色散型X射線熒光分析儀次使用，也能輕松操作，操作簡(jiǎn)便且以更高的精度進(jìn)行微量分析，達(dá)到Z高靈敏度與Z佳分辨率的結(jié)合。 標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需...

詳細(xì)摘要： RoHS檢測(cè)儀X射線熒光光譜分析儀UX-220ROHS分析儀價(jià)格經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測(cè)試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、C...

詳細(xì)摘要： 華唯鍍層厚度檢測(cè)儀Ux-720鍍層厚度檢測(cè)儀采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都...

詳細(xì)摘要： X射線熒光鍍層測(cè)厚儀UX-700：本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量，Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測(cè)...

詳細(xì)摘要： ROHS檢測(cè)分析儀X射線熒光光譜儀ROHS檢測(cè)分析儀UX-220經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測(cè)試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、C...

詳細(xì)摘要： RoHS無鹵環(huán)保檢測(cè)儀熒光光譜分析儀:高度智能化設(shè)計(jì)使操作更加簡(jiǎn)便，輕松成為測(cè)試專家。可根據(jù)測(cè)試情況，自動(dòng)設(shè)定各操作單元?jiǎng)幼骷跋嚓P(guān)技術(shù)參數(shù)。既保證了相關(guān)器件的壽...

詳細(xì)摘要： 無損檢測(cè)儀微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置Xslicer SMX-6010是一款堅(jiān)直照射型x射線檢查設(shè)備，配備了生產(chǎn)的微焦點(diǎn)x射線發(fā)生器和高分辦率平板探測(cè)器。通過高清晰...

詳細(xì)摘要： 日本島津超聲波光學(xué)金屬表面探傷儀島津的光學(xué)成像技術(shù)，將超聲波振子和頻閃觀測(cè)器相結(jié)合，在試樣表面使用超聲波振蕩器振動(dòng)，表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光...

詳細(xì)摘要： 和伍超聲掃描顯微鏡設(shè)備整機(jī)尺寸750mm（長(zhǎng)）×700mm（寬）×1350mm（高）。安裝方案基于空間占用最小化和維護(hù)/服務(wù)條件需要，保證在...

詳細(xì)摘要： 和伍超聲探傷儀多功能顯微鏡超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣...

詳細(xì)摘要： 和伍水浸超聲掃描顯微鏡超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)...

詳細(xì)摘要： 落地式光電直讀光譜儀最新開發(fā)出的一款落地式光電直讀光譜儀，光譜儀精華及最新分析技術(shù)于一身，憑借其可靠的結(jié)構(gòu)和智能化軟件，保證了產(chǎn)品的突出性能和操作便捷。

詳細(xì)摘要： 硫化學(xué)發(fā)光檢測(cè)系統(tǒng)氣相色譜儀Nexis™ SCD-2030是為解決實(shí)驗(yàn)室需求而開發(fā)出的新一代硫化學(xué)發(fā)光檢測(cè)系統(tǒng)。

詳細(xì)摘要： 日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。