硅片測試片正片各種規格、工藝定制

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公司介紹 主營產品

冠乾科技Grant Technology 有限公司創立于中國上海。公司為用戶提供先進可靠的設備及、

儀器技術，為客戶把握工藝過程，得到優質的結果而服務。
Grant是“授予”的意思，希望公司能夠成為一個平臺，以用戶能夠得到上更新更快的技術資訊，技術方案為企業目標。

冠乾科技追求品質產品、專業的應用和完善的售后服務，我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設備：真空鍍膜機；離子束刻蝕機，ICP刻蝕機，等

產品線豐富，元素分析:原子吸收,氣相色譜，液相色譜，氣質聯用，紫外分光光度計等；熱分析：材料表面分析：原子力顯微鏡，光學輪廓儀，摩擦磨損等；通用分析：掃描電鏡，

實驗室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計
電化學工作站
紅外光譜儀
鍍層測厚儀
數字顯微鏡
影像測量儀
Wafer 粗糙度檢測
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測試
掃描探針顯微鏡
臺式掃描電鏡

其他儀器：
四探針測試
離子減薄機

展開

原子力顯微鏡，摩擦磨損試驗機，超景深顯微鏡，鍍膜機

供貨周期	一個月	應用領域	化工,生物產業,電子/電池,綜合

硅片測試片正片各種規格、工藝定制

所屬品牌：冠乾科技

耗材名稱：硅片、測試片、正片、各種規格、工藝定制。

尺寸等級	直徑50~450 mm
	1.產品級拋光晶圓片(Prime Wafer)-可旨定TTV、顆粒度、電阻值及厚度等
	2.超潔凈晶圓(LowPaticle Wafer)
	3.再生晶圓(Reclaim Wafer)
	4.裸片(Coinroll Wafer)
品牌	SOI Wafer、外延片(Epi Wafer)、玻璃晶圓(GlassWafer)、石英晶圓(Quartz Wafer)、化合物晶圓(Compound Wafer)等
特殊晶圓	SOI Wafer、外延片(Epi Wafer)、玻璃晶圓(GlassWafer)、石英晶圓(Quartz Wafer)、化合物晶圓(Compound Wafer)等
其他	根據客戶需求可訂制Haze度、雷射刻碼、晶向、Notch方位、面狀態、金屬污染等規格