17
當前位置：上海人和科學儀器有限公司>>物理分析儀器>>差示掃描量熱儀>> Sapphire熱流型差示掃描量熱儀
Sapphire熱流型差示掃描量熱儀
采用熱流型設計原理，其結構精致而簡單，操作方便，性能*。對于質量控制和材料研究zui為理想。可用于測量材料的熔點、玻璃化溫度、結晶度、固化度、純度、比熱、反應動力學、熱穩定性、相轉變溫度等參數。
產品特點
·采用保護的橢圓形量熱傳感器
·爐體堅固耐用，抗腐蝕性強
·DSC基線及其平穩
·具有*的Highway TA熱分析模擬軟件可供選擇
·具有多種冷卻附件可供選擇
·可選配樣品自動進樣器
·溫度范圍：-170--725゜C（樣品實際能夠達到的測試溫度）
·溫度準確度：±0.1゜C
·溫度精度：±0.02゜C
·量熱準確度：± 1%
·量熱精度：±0.5%
·掃描速率：0.01-100゜C/min
