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穆勒矩陣（Mueller Matrix）是一種強大的工具，用于全面描述和分析光與物質相互作用時的偏振變化特性。AxoScan系統，作為一款高精度、高速度的旋光儀，通過其特的措施，在可見光范圍內對樣品的偏振特性進行了深入探索。特別是在光束直徑為3mm的條件下，AxoScan能在極短的30ms內完成對整個穆勒矩陣的測量，這一性能確保了即使在快速變化的光學環境中也能進行準確的測量。

美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

AxoScan 是測量樣品偏振特性的系統。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產品的用戶所采用。AxoScan 可以測量偏振特性（全穆勒矩陣），報告樣品的關鍵偏振參數（偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性）。測量在單個位置進行，通常是直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要測量更小的特征，可考慮使用 AxoStep 成像偏振儀。與只測量特定偏振參數子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振儀不同，AxoScan 和 AxoStep 可測量完整的穆勒矩陣。穆勒矩陣的 16 個元素包含了樣品可能的偏振特性。有易于使用的軟件可自動將穆勒矩陣轉換為透射率、偏振片特性（衰減和偏振）、延遲和去極化等有意義的參數。Axometrics 還可為較多行業提供定應用軟件。

美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀

技術參數

型號	MMSP-VIS
波長范圍	400-1000 nm
探測器類型	硅光電二極管
分辨率	約1320 x 1024
時間	約1~2.5秒/區域
探測器尺寸	7.87毫米（直徑）
型號	MMP-HSO
波長范圍	380-700 nm
探測器類型	光電倍增管
型號	MMP-NIR
波長范圍	1250 - 1600 nm
探測器類型	InGaAs 光電二極管

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