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# 2024年新品發(fā)布會(huì)#
日期：2024年9月29日
時(shí)間：8：30-18：30
近期我司新推出升級(jí)了 SHASHIN寫真化學(xué) 進(jìn)口供應(yīng)紅外吸收涂層測(cè)厚儀
使用光吸收法可以測(cè)量半透明片材、低反射膜、有機(jī)硅等的厚度，這是使用光學(xué)干涉的反射光譜膜測(cè)厚儀難以做到的。
這是一種可以通過(guò)顯微圖像光譜以高分辨率可視化薄膜厚度分布的薄膜厚度計(jì)。
可以以 10 nm 或更低的高分辨率測(cè)量顯微鏡視野內(nèi)某個(gè)區(qū)域內(nèi)透明多層薄膜的厚度分布。
由于它是一種使用光學(xué)干涉法的反射光譜方法，因此很容易獲得 0.1nm 或更小的膜厚精度。
