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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測(cè)試儀>> EC-80日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用
產(chǎn)品型號(hào)EC-80
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間：2025-05-08 18:51:59瀏覽次數(shù)：512次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 類型 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80 特點(diǎn)介紹
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測(cè)量條件
測(cè)量目標(biāo)
半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
日本napson電阻率測(cè)試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80 規(guī)格參數(shù)
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測(cè)量條件
測(cè)量目標(biāo)
半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x
一種簡(jiǎn)單的測(cè)量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進(jìn)行測(cè)量。
在電阻率和方塊電阻測(cè)量模式之間輕松切換
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