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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測量裝置>> PAM-UHR100日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置
產(chǎn)品型號PAM-UHR100
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2025-05-05 18:17:46瀏覽次數(shù)：417次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 特點介紹
本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。
■特點
測定方式
平行尼科耳分光
樣品尺寸
□40mm、厚度3mm以下
測定項目
相位差、取向角、雙折射
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 規(guī)格參數(shù)
規(guī)格內(nèi)容測定對象透明拉伸膜（PC，PET等）測定項目相位差、取向角、雙折射（相位差范圍約800～20000nm）試樣尺寸□40mm厚度3mm以下系統(tǒng)結(jié)構(gòu)測定裝置主體、筆記本電腦（OS:Windows7/Vista/XP）溫濕度條件10～35°C、20～80%RH（但不結(jié)露）電源AC100V±10%、50/60Hz
偏光軸方位、配向角、位相差
測定対象
光學(xué)薄膜、偏振板
測定原理
旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法
測定時間
約4秒（偏振軸測量）
測定波長
590nm（可選=450nm、630nm等）
樣品尺寸
30mm~250mm，t=20mm以下
系統(tǒng)配置
測定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）
主體尺寸
W380XH390 XD610 mm
本體重量
27kg
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