MCP-T710新品直供NITTOSEIKO日東精工Loresta-GXⅡ 低阻電阻率計(jì)
MCP-T710新品直供NITTOSEIKO日東精工Loresta-GXⅡ 低阻電阻率計(jì)
Loresta-GXⅡ MCP-T710低阻電阻率計(jì)
用途
Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域?qū)Σ牧峡焖佟⑤p松管理的需求日益增長。其中，電阻率（表面、體積、電導(dǎo)率）是表示材料狀態(tài)和性質(zhì)的指標(biāo)。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準(zhǔn)確地測量電阻率的設(shè)備。
該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。
與傳統(tǒng)的4端子法不同，無需為測量對象準(zhǔn)備電極，使用本公司提供的各種4點(diǎn)探頭即可一鍵測量電阻率。
主要測量目標(biāo)
■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。
特征
可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導(dǎo)率。
與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴(kuò)大至 10 7 Ω
通過改變電流方向即可測量硅片
恒定電流可變功能（可使用微小電流進(jìn)行樣品測量）
可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器
通過觸摸屏提高操作性
規(guī)格
| 測定方式 | 定電流印加方式／四探針方式 |
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| 數(shù)據(jù)顯示 | 640 x 480 點(diǎn) 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏 |
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| 轉(zhuǎn)換器 | 上限值和下限值可單獨(dú)設(shè)置 |
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| 探測 | 專用探頭 ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR |
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| 數(shù)據(jù)輸出 | USB存儲器 |
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| 電源 | 交流85～264V 47～63Hz |
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| 尺寸/重量 | W320 x D285 x H110mm（儲物箱打開時(shí)，W320 x D285 x H200mm） 約2.4kg |
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| 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 | ASR 探頭，4 針探頭檢查器 |
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返回頂部
測量范圍和精度
| ＼ | 恒流值 |
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| 1A | 100毫安 | 10毫安 | 1毫安 | 100μA | 10μA |
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測量 范圍
| 10 -4 | ±（2.0%+30數(shù)位） |
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| 10 -3 | ±（2.0%+20位） | ±（2.0%+20位） |
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| 10 -2 | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（2.0%+20位） |
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| 10 -1 | ±（1.0%+3dgt） | ±（1.0%+3dgt） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（2.0%+20位） |
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| 10 0 |
| ±（0.5%+3dgt） | ±（0.5%+3dgt） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（2.0%+20位） |
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| 10 1 |
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| ±（0.5%+3dgt） | ±（0.5%+3dgt） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（2.0%+20位） |
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| ＼ | 恒流值 |
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| 1毫安 | 100μA | 10μA | 1微安 | 0.1μA |
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測量 范圍
| 10 2 | ±（0.5%+3dgt） | ±（0.5%+3dgt） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（2.0%+20位） |
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| 10 3 |
| ±（0.5%+3dgt） | ±（0.5%+3dgt） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） | ±（2.0%+20位） |
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| 10 4 |
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| ±（0.5%+3dgt） | ±（0.5%+3dgt） | ±（1.0%+ 5個(gè)字） |
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| 10 5 |
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| ±（0.5%+3dgt） | ±（1.0%+3dgt） |
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| 10 6 |
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| ±（1.0%+3dgt） |
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| 10 7 |
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| ±（2.0%+ 5個(gè)字） |
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