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材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡

材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM功能：

可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG)

選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結合。

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實現對多模式數據的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節，同時保持高潔凈度。

更多空間

為動態實驗添加特定用途的原位樣品桿。

高度可重復的數據采集

所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的，確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現的方式重復進行，從而使您能夠專注于研究而非儀器操作。

更好的圖像數據

高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測，可為高質量圖像提供更高的對比度。

高質量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS

通過創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現極準確的定量。

提高了生產率

超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。