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德國無錫駿展儀器供應FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器，比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品應用：
測量大規(guī)模生產的電鍍部件
測量鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍溶液
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