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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,建材/家具,電子/電池,電氣 |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
SSD高溫老化試驗(yàn)箱
SSD High Temperature Aging Test Chamber
該產(chǎn)品適用于SSD儲(chǔ)存設(shè)備的熱處理及溫度特性試驗(yàn)。
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB2423.2-89高溫試驗(yàn)方法規(guī)格、GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、JB/T5520-91《干燥技術(shù)條件》、電熱設(shè)備的安全性按GB5959.1-執(zhí)行、2005、GB5959.4-2005GB10067.1-2005《電熱設(shè)備基本技術(shù)條件通用部分》、GB10067.4-2005《電熱設(shè)備基本技術(shù)條件間接電阻爐》等。
該產(chǎn)品適用于SSD儲(chǔ)存設(shè)備的熱處理及溫度特性試驗(yàn)。
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB2423.2-89高溫試驗(yàn)方法規(guī)格、GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、JB/T5520-91《干燥技術(shù)條件》、電熱設(shè)備的安全性按GB5959.1-執(zhí)行、2005、GB5959.4-2005GB10067.1-2005《電熱設(shè)備基本技術(shù)條件通用部分》、GB10067.4-2005《電熱設(shè)備基本技術(shù)條件間接電阻爐》等。
