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OmniScan MX奧林巴斯渦流陣列探傷儀
用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈（使用外置多路轉換器可支持64個線圈），其工作模式可為橋式或發送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項
產品簡介
詳細介紹
OmniScan MX奧林巴斯渦流陣列探傷儀
用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈（使用外置多路轉換器可支持64個線圈），其工作模式可為橋式或發送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項
渦流陣列技術
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優勢
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優勢：
檢測時間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區域。
減小了機械和自動掃查系統的復雜性。
提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。
很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
渦流陣列軟件
簡單的數據采集和分析顯示
采集模式顯示分析模式顯示
C掃描視圖中的數據采集，可快速有效地檢測缺陷。
分析模式下的數據選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
波幅、相位和位置測量。
可調彩色調色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規單通道ECT探頭檢測相適應。
分步進行。
一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。
波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。
３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀（扇形、長方形、環形等）。
自動探頭識別和配置
探頭被連接后，C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置。
頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
采集模式顯示分析模式顯示
實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示。
使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。
數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂，因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。
OmniScan MX奧林巴斯渦流陣列探傷儀高級復合材料檢測
Olympus推出了一款新開發的粘接檢測OmniScan解決方案：這無疑是復合材料檢測行業中的一大進步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經成為現實。這款OmniScan解決方案不僅可適用于蜂窩結構復合材料的脫膠檢測，還可以進行分層檢測，且結果的精確程度與脫膠檢測相比絲毫不差。雖然這個解決方案主要為航空航天工業的在役檢測而設計，但是在包括汽車和船舶工業在內的制造業中也非常有用，如：針對復合材料船體的檢測。
已經擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標準的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就可以使用這個解決方案完成檢測應用。
我們特別為復合材料的檢測開發定制了MXB軟件。其新添的功能，如：向導和標準化，有助于保持操作的簡潔性。
編碼系統：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測工件。Olympus提供兩個選項：一個是可適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個是WING掃查器，這款掃查器專門為掃查曲面工件而設計（如：航天飛機的機身），而且因其具有Venturi真空吸盤系統，甚至可以倒置進行操作。此外，裝有步進點擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個系統兼容，從而加強了系統的多用性。
Olympus又一次創新了在屏幕上顯示數據的方法。針對每個C掃描，操作人員可以有兩個視圖選擇：一種是波幅C掃描，不會考慮相位情況，只基于信號的波幅而顯示不同的顏色，這是一個可清晰、有效地探測脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描，使用0°到360°的彩色調色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補）缺陷或分層缺陷。