目錄:儒亞科技（北京）有限公司>>在線分析>>在線X射線熒光元素分析儀>> C-Quand在線X射線熒光法元素分析儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,食品/農產品,化工,石油,能源 |
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C-Quand在線X射線熒光元素分析儀基于成熟的元素分析技術-EDXRF技術，也即能量色散X射線熒光技術。該技術測量樣品中原子產生的特征X射線光譜，更重要的是，這種測量方法在整個測量過程中是連續的，而不是只對起始時間進行瞬間測量。
不間斷在線測量提供及時信息，讓您可以輕松實現過程控制并優化過程控制。C-Quand是為工業過程控制的特殊需求而設計的，它為針對產品環境的嚴謹系統提供快捷可靠的化學分析，C-Quand加上特殊應用模塊可滿足各種工業現場的嚴格要求。
技術特點：
使用EDXRF技術，C-Quand可測量從硅（原子數14）到鈾（原子數92）之間的任何元素，濃度范圍從ppm到%，測量的濃度范圍和精度根據具體應用而定。
應用領域
XRF法是分析石油產品種總硫含量合適的方法，相比通過流動注射或轉化法測二氧化硫和硫化氫得到硫含量的技術方法相比，當檢測樣品的沸點超過450℃時，不再適合總硫分析，應用行業包括：
C-Quand在線X射線熒光元素分析儀技術參數
分析 | |
測量原理 | X射線能量色散技術 輻射源： X射線管，可定制特殊應用探頭 |
元素范圍 | 硅(Si) 到鈾(U) (原子序數從14 到 92) |
測量范圍 | 濃度等級從 0.5 ppm 到% 等級 (特殊應用) |
元素種類 | 每臺儀器多可測量15種元素 |
精度 | 取決于具體應用，從 ppm 到 % 等級 穩 定性：通常優于 0.5%(漂移自動修正) |
標樣校準 | 在測量范圍內使用標準的校正方法。簡單的實驗室樣品校正和實驗室采集 選項。為了得到更高的靈敏度，在測量輕元素 (Si, P, S, K, Ca, Cl)的時候， 建 議使用氮氣(N2)進行吹掃。 |
中央處理和控制單元 | |
工業計算機 | Windows嵌入式操作系統。 15” TFT LCD 液晶彩屏。完整的ASCII 鍵盤 。 多個屏幕(可選) |
模擬輸出 | 獨立的4–20 mA模擬輸出 |
通訊 | RS485 或 TCP/IP 的網絡通訊協議(MODBUS) |
環境溫度 | 5-40°C |
測量頭 | |
X射線探頭 | 硅漂移探測器，分辨率135eV，低噪聲 |
高壓電源 | 0-50kV |
測量源 | 15W X光射線管，銀制電極 |
采樣窗口 | Be鈹 |
穩定性 | 自動偏移校正，自動反向散射峰校正，自動環境壓力校正 |
現場使用條件要求 | |
電源 | 110-230VAC， 50/60 Hz |
功耗 | 100VA （高溫測量池150VA） |
儀表風 | 對于Exp型版本以及標配氣動閥（可選電動閥）需要<2L/min的儀表風 |
樣品分析要求 | |
樣品流速 | 0.2-0.5 L/min |
樣品池溫度 | 大可達80°C |
樣品池壓力 | 標準大氣壓 |
粘度 | <100 cSt (采樣室溫度為80°C) |
污染物 | >10微米需濾除，消除自由水 |
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