在光學測量的浩瀚領域，一款較突出的儀器正掀起一場革新風暴，它就是 WPA - 200 相位差測試儀。
WPA - 200 相位差測試儀宛如一座光學測量的智慧燈塔。它采用先進的光子晶體技術，為高精度測量奠定了堅實基礎。測量速度之快令人驚嘆，僅需 3 秒，即可完成一次測量，極大地提高了工作效率，讓您無需漫長等待，快速獲取關鍵數據。
其測量范圍廣泛，可達 0 - 3500nm（可拓展至 10000nm），幾乎涵蓋了常見光學材料和元件的測量需求。而且，測量精度堪稱，重復精度小于 1nm（西格瑪），無論是在光學零件的精細檢測，還是對透明成型品的質量把控中，都能精準無誤地呈現相位差信息。
這款測試儀的數據呈現方式D具匠心，以二維分布圖像的形式將測量數據可視化。這不僅使您可以直觀地讀取數據，更能通過多種分析功能，如點、線、面、3D 的分析，深入探究樣品的相位差分布細節。這就像為您配備了一個光學顯微鏡，讓材料內部的奧秘清晰地展現在眼前。
在應用領域，WPA - 200 相位差測試儀更是展現出其強大的適應性。在光學零件檢測方面，對于鏡片、薄膜、導光板等，它能精準檢測相位差，確保產品質量，保障光學性能的優秀。在透明成型品檢測中，無論是車載透明零件還是食用品容器，都能被它敏銳洞察，及時發現應力等因素引起的相位差變化，保障使用安全。在透明樹脂材料、透明基板以及有機材料研究領域，它也是的得力助手，助力科研人員深入了解材料特性，推動科研此外，WPA - 200 不含旋轉光學濾片的機構，這一設計減少了儀器的維護成本和難度，讓儀器更加穩定可靠，如同一位忠實的伙伴，始終陪伴您在光學測量的道路上前行。
無論是光學研究機構、生產制造企業，還是質量檢測部門，WPA - 200 相位差測試儀都將成為您開啟光學測量新紀元的關鍵鑰匙，引的導您在光學領域探索更多未知，創造更多可能。
