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Capability:

• Semiconductor Surface Barrier-V_sb 表面勢壘

• Oxide Total Charge -Q_tot 氧化物總電荷

• Interface Trapped Charge-Q_it 界面電荷

• Interface Trap Density-D_it 界面態密度

• Di Spectrum:D_it vs. V_sb

• Dielectric Capacitance -C_D and thickness -CET 介電層電容和電學總厚度

• Dielectric Leakage 介電層漏電

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。