目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>半導體材料測試>>橢偏拉曼AFM>> 納米壓痕測試設(shè)備
測試參數(shù):彈性模量，硬度，屈服強度，儲存和損耗模量，斷裂韌性，劃痕和磨損性能
側(cè)向力(劃痕測試模塊)
原子力顯微鏡
有限元分析集成模塊
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
5
化工儀器網(wǎng)