目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>半導(dǎo)體材料測試>>半導(dǎo)體多功能測試>> WT-1200A 單點(diǎn)式少子壽命測試系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2025-05-07 12:21:55瀏覽次數(shù)：599評(píng)價(jià)
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QSS μ-PCD微波反射光電導(dǎo)衰減測試
Effective Lifetime -τeff有效少子壽命
Implied Voltage-Voc贗電壓
Emitter Saturation Current Jo 發(fā)射級(jí)飽和電流
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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