如何測量超細粉塵和納米顆粒？“微"不足道，“納"沒問題，SMPS來幫忙！Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是先進的納米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準確可靠的粒徑分析和計數功能，而且高達256原始通道能夠實現高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求；桌面式簡便操作，易上手；連接方便，可靈活搭載各種預處理裝置（如稀釋裝置等）；開放式數據文件，讀取和分析便捷；可實現自檢測和校準；*兼容性和靈活性，可以跟市場主流計數器兼容等。想了解更多產品信息嗎？誠邀您參加Palas®微信直播演示 — SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀“進階"！

主題：Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀“進階"微信直播演示

時間：2021年9月23日，周四 13:30-15:00

主講人：莊義成 先生

Palas®中國應用與服務經理

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作為氣溶膠測量技術的專家，Palas®將其在顆粒和過濾技術領域制定安全標準的長期專業知識帶入了中國，將其*的技術集成在高精度和認證儀器中，可用于生產和表征空氣中的顆粒。除此之外，還將開展培訓課程和研討會來傳遞專業知識。2020年7月，Palas®中國在上海成立運營，以更好地服務于亞洲市場。Palas®不僅將德國品質帶入中國，而且還滿足您進行安全可靠測試所需的所有相關規范和標準。作為一家通過ISO 9001：2015質量管理體系認證的公司，Palas®的解決方案符合歐洲標準（EN）、美國國家職業安全衛生研究所標準（NIOSH）、以及中國JJF 1716粉塵濃度測量儀型式評價大綱、中國GB2626口罩檢測標準等。

帕剌斯儀器（上海）有限公司

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