電致發光/光致發光測量系統是專業為發光材料發光光譜測量設計的電致發光/光致發光測試儀器,適合測量LED與發光材料發光特性和發光效率,并對發光元件特性優劣分析。

    電致發光/光致發光測量系統采用4''PTFE高反射率積分球收集LED各角度發光,可能測量LED和發光材料。電致發光測試儀系統特點：針對新型電致發光材料設計、快速超低亮度0.1cd/m2測量能力；LED老化測量功能；外部量子效率測試；可與手套箱整合；具備NIR波段(700-1000nm)測試能力；LED全參數測定能力。

    采用PTFE積分球測量系統：產業化LED的標準；準確測量輻射光通量(１m)與功率(W)；LEDEQE低亮度測量能力可<0.1cd/m2；智能調變光譜儀曝光時間，提升測試速度；多種LEDEQE測試夾具。

    電致發光缺陷檢測儀空間分辨力測試板,所述空間分辨力測試板上分布有復數個檢測方塊組,每一所述檢測方塊組包括復數個具有不同線對條紋寬度的檢測方塊,每一所述檢測方塊由復數個黑白間隔的線對條紋組成,不同所述檢測方塊組內線對條紋的方向不同,同一所述檢測方塊組內線對條紋的方向相同,每一個線對條紋內黑白條紋的寬度一樣,所述空間分辨力測試板具有近紅外光可穿透性。