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　　植物葉面積指數是果樹冠層生物學特征的一個重要參數，它可以影響果園的產量、品質以及光能的截獲，在一定程度上決定了果園的生產效率。測量葉面積指數的方法有直接測量法和間接測量法，直接測量法具有破壞性，且費時費力，不能重復，操作困難。間接測量法分為相對生長法和光學法，應用比較廣泛，植物冠層分析儀就是屬于光學法的，特點是攜帶方便，可直接給出葉面積指數值。下面我們就來了解下如何使用植物冠層分析儀測量果樹的葉面積指數。

　　首先將儀器攝像頭放在需要測量的果樹冠層下方，打開冠層自動采集軟件，選擇連接，用戶可以在計算機屏上看到清洗的動態圖像，然后選擇串口，再選擇實時顯示，便會顯示實時光合有效輻射強度值，選擇獲取方式便可獲取冠層圖像和相關的參數值，圖像格式為標準的位圖圖像，圖像和光合有效輻射強度保存于計算機中的D盤中，打開冠層分析軟件，選擇需要打開的冠層圖像，點擊測量按鈕，調節適當的閾值可以計算出果樹冠層的葉面積指數、葉片平均傾斜角度等參數，計算結果將直接顯示在計算機屏幕上，也可方便地將它以文本文件的形式保存在計算機中。

　　以上即是利用植物冠層分析儀測定果樹葉面積指數的具體流程，打開儀器的各個部件與數據連接線連接起來，包括魚眼鏡頭與測桿的連接，筆記本與測桿的USB連接線，筆記本與電池盒的USB連接，測桿與電池盒的連接插頭等。各個部件正確連接后，打開筆記本電源和電池盒電源開關，打開植物冠層分析軟件，自動采集軟件可以方便地采集植物冠層圖像和光合有效輻射強度、葉面積指數等信息。