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測(cè)金屬硅中的鐵鋁鈣鈦磷硼含量測(cè)試儀
光譜帶寬3.8nm
光學(xué)系統(tǒng)CT光路結(jié)構(gòu) 比例監(jiān)測(cè)紫外可見分光光度計(jì); 0.1 nm光焦距200mm
波長范圍190—1100 nm
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
測(cè)金屬硅中的鐵鋁鈣鈦磷硼含量測(cè)試儀
顯示雙模操作 儀器主機(jī) 液晶顯示屏 +（pc款 PC工作站操作）
波長精度±0.1nm（@656.1nmD2,±0.3nm(全波長范圍)）實(shí)測(cè)±1nm
雜散光≤0.1%T(220nm Nal;360nm NaNO2)
光度范圍0-200%T，-0.3
測(cè)金屬硅中的鐵鋁鈣鈦磷硼含量測(cè)試儀
自動(dòng)紫外可見分光光度計(jì)主機(jī) | 壹臺(tái) |
電源線 | 壹根 |
高性能配對(duì)石英比色皿1cm | 貳只 |
高性能配對(duì)玻璃比色皿1cm | 肆只 |
資料包（操作手冊(cè)、保修卡、 | 壹套 |
上海析譜儀器有限公司是專業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室科學(xué)儀器自主研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)一體的制造企業(yè)。公司坐落于上海市松江區(qū)久富經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)。公司成立于2012年，公司主營實(shí)驗(yàn)室常用儀器，光譜分析儀器-紫外可見分光光度計(jì)、可見分光光度計(jì)、雙光束紫外可見分光光度計(jì)、火焰光度計(jì)、薄膜固體測(cè)試儀、氮吹儀、固相萃取、索氏提取器，酸度計(jì)、天平、實(shí)驗(yàn)室耗材、配件、配套標(biāo)準(zhǔn)試劑盒等。