直觀經(jīng)濟(jì)的臺(tái)式粗糙度計(jì)量設(shè)備

ContourX-100光學(xué)輪廓儀是準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量設(shè)備。

該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計(jì)，結(jié)合了數(shù)十年布魯克白光干涉儀（WLI）創(chuàng)新，可提供毫不遜色的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。滿足計(jì)量要求的臺(tái)式系統(tǒng)具有業(yè)界先進(jìn)的友好用戶界面，可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于加工的表面，薄膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。

快速、可重復(fù)的三維計(jì)量

* 與放大倍率無關(guān)Z軸分辨率

* 大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng)

* 高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計(jì)

高性能的測(cè)量和分析功能

* 易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

* 廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng)，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析

* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告