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詳細介紹
0-1系列標準塞規式測量系統
該量儀屬于比對法測量，可快速高效測量孔內幾何形狀，自定中心，應用范圍廣，操作簡單精度高，結構牢固長壽命，不會劃傷工件
DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計，了測量結果的可能性，解決了孔徑測量的對中難題，限度減少了人為因素測量結果的影響，可方便、快速、得出測量結果。
測頭為非標定制，按圖紙及使用要求加工制作！
測頭結構 |
| 測頭參數 |
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1、手柄 | 測頭形式：標準孔 | ||
2、顯示裝置 | 測量范圍：+0.2mm | ||
3、測針 | 重復精度：0.001mm | ||
4、導向體 | 線性誤差：1%測量行程 | ||
5、兩瓣體 | 測點半徑：4.5mm | ||
6、測點 | 測頭壽命：可達100萬次 |
導向體根據被測工件制定是BMD測頭的精度來源。
測量結果可靠不受人為因素影響
可提供刻字服務如客戶的特定ID號、公差等
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