芯片檢測(cè)影像測(cè)量?jī)x可以測(cè)量十五種幾何元素（點(diǎn),直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環(huán),圓柱,圓錐,球,開(kāi)曲線,閉曲線,焦面,角度和距離），并且可以測(cè)量高度,也可以預(yù)置基本幾何元素。根據(jù)實(shí)際測(cè)量需求可以選擇接觸式測(cè)量---探針測(cè)量，也可以選擇非接觸式測(cè)量---影像和激光位移器測(cè)量。多種測(cè)量方法: 智能尋邊,整體采點(diǎn),多段采點(diǎn),鼠標(biāo)采點(diǎn),鄰近采點(diǎn),十字線采點(diǎn),放大采點(diǎn),對(duì)比采點(diǎn)。
每種芯片產(chǎn)量少則幾千件，多則上萬(wàn)件。所有的芯片需要全檢，并根據(jù)不同的尺寸公差，將產(chǎn)品分成優(yōu)、良、差三個(gè)等級(jí)?？蛻粢酝墓ぷ鞣绞绞遣捎?/span>芯片檢測(cè)影像測(cè)量?jī)x，一個(gè)一個(gè)進(jìn)行人工操作測(cè)量分級(jí)，這對(duì)客戶來(lái)說(shuō)無(wú)疑是巨大的工作量。面對(duì)與日俱增的工作量，對(duì)檢測(cè)及分揀自動(dòng)化提出了要求。
自動(dòng)軟件自動(dòng)影像加探針和激光位移器測(cè)量應(yīng)用軟件，可以對(duì)二維測(cè)量的坐標(biāo)進(jìn)行可視化分析處理和檢測(cè)，也可以使用探針進(jìn)行三維幾何元素測(cè)量,也可以用激光位移器測(cè)量平面度和高度。應(yīng)用于各種精密制造業(yè)，如手機(jī)組件,模具,電子,通信,機(jī)械,五金,塑料,儀表,鐘表,PCB,LCD等行業(yè)?？蓽y(cè)量的材料包括金屬,塑料,橡膠,玻璃,PCB,陶瓷等;
芯片檢測(cè)影像測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)：
工 作 臺(tái) | 儀器型號(hào) | EVM-1510G | EVM-2010G | EVM-2515G | EVM-3020G | EVM-4030G |
金屬臺(tái)尺寸(mm) | 354×228 | 404×228 | 450×280 | 500×330 | 606×466 | |
玻璃臺(tái)尺寸(mm) | 210×160 | 260×160 | 306×196 | 350×280 | 450×350 | |
運(yùn)動(dòng)行程(mm) | 150×100 | 200×100 | 250×150 | 300×200 | 400×300 | |
儀器重量(kg) | 100 | 110 | 120 | 140 | 240 | |
外型尺寸L*W*H | 756×540×860 | 670×660×950 | 720×950×1020 | |||
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