M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀性能優勢

科研級CMOS檢測器，全元素分析，開創PPM級元素分析新紀元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小，抗干擾強，具備防光暈技術

抗干擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像素信號單獨讀取，實現參數優化設計

紫外響應高 超高紫外響應靈敏度，無需鍍膜，實現非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優

經典雙光室設計，光譜范圍寬，元素分辨率有保證

獨立設計的紫外光學系統，激發臺直接采光，專為N，C，S，P等紫外元素測量設計，刻線數多，分辨率高，兼顧高分辨和譜線范圍優勢，譜線范圍寬，分析元素多，性能好

單獨設計的紫外光學系統，體積小，結構簡單，*，采用多孔吹掃技術，可將空氣迅速吹掃干凈，確保元素分析效果

穩定性升級，重新定義光學產品穩定性

壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力處理

光室恒溫設計，保證光譜位置長期穩定，不漂移

氣流路的精確設計，一切為了結果更穩定

RTMC光譜優化技術，帶來更穩定的體驗

全數字脈沖光源，自動選擇*能量保證分析的準確性與重復性

易用性升級，給用戶更簡單、高效的使用體驗

優質硬件與特定算法的結合，多重穩定保障，更好地監控儀器運行狀態，提升分析效果，減少校準頻率

支持全譜分析檢測，拓展性更高。增加分析基體和元素無需增加硬件，通過軟件即可擴展分析范圍，使用更靈活

智能曲線功能可滿足對所有材料的分析需求，真正實現未知樣品分析，無需糾結模型選擇，操作更加簡便

友好的人機交互設計，軟件主界面簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學會并熟練操作軟件

新增遠程維護功能，可遠程升級固件程序，遠程檢查儀器狀態，對儀器生命周期健康負責

M5000 PLUS 全譜直讀光譜儀應用領域

應用于冶金、鑄造、機械加工、鑄造、金屬材料科研、航空航天、造船、汽車、海關檢驗、第三方檢測等諸多領域。