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考古陶瓷古玩斷代測(cè)試儀 古董年份鑒定儀器對(duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)...

古董陶瓷年代鑒定X熒光測(cè)試儀對(duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)試法相比， ...

古董鑒定儀器光譜分析儀_考古檢測(cè)儀器對(duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)試法...

古玩陶瓷無損檢測(cè)儀器 古董斷代儀器對(duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)試法相...

考古檢測(cè)X熒光光譜儀 古陶瓷 古青銅器對(duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)試...

X熒光分析儀器 檢測(cè)鑒定古文物真?zhèn)螌?duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)試法相...

古董古陶瓷古青銅器成分分析光譜儀對(duì)瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎， 并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持， 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測(cè)試法相比...

Rohs十項(xiàng)分析儀 鄰苯4項(xiàng)測(cè)試儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(...

單道掃描電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是光電倍增管PMT檢測(cè)器為基礎(chǔ)的單道掃描電感耦合等離子發(fā)射光譜儀，高頻發(fā)生器，自動(dòng)調(diào)諧，提供具有中英文操作界面的軟件；專用自動(dòng)...

固定道波長(zhǎng)能量色散X熒光光譜儀 玻璃分析儀可配置10個(gè)固定分光道，同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na、Mg、...

固定道波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀 元素成分分析儀可配置10個(gè)固定分光道，同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na、Mg、...

五金電鍍件無損檢測(cè)儀俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金...

鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅鎳厚度檢測(cè)俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。廣泛應(yīng)...

便攜式X射線衍射儀 礦石物相分析在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特...

氧化鋯陶瓷材料分析儀 X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在...

便攜式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向上發(fā)生...

臺(tái)式XRD X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方向...

高分辨多晶薄膜X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方...

薄膜材料X射線衍射物相分析在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定的方...

薄膜材料高分辨率X射線衍射分析在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上，樣品臺(tái)位于測(cè)角儀中心，基于反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時(shí)，在特定...