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珀金埃爾默ICPMS的干擾類型與消除技術
閱讀：910 發布時間：2019-1-28| 提 供 商 | 上海斯邁歐分析儀器有限公司 | 資料大小 | 3.9MB |
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來自樣品溶液或珀金埃爾默ICP中的其他物質可能在進樣系統、ICP離子源、接口、四級桿質譜等環節對待測離子的測定結果產生影響，造成檢測結果的失真。
• 進樣系統：物理干擾。樣品溶液因比重、粘度不同造成進樣效率不同。
• ICP離子源：化學與電離干擾。樣品基體與待測組分形成穩定化合物，或基體組
分電離影響ICP中的電子密度，影響待測組分的離子產率。
• 接口：空間電荷效應（質量歧視）。樣品中基體組分電離形成的大量離子把
待測離子推開導致待測離子傳輸效率變化。
• 四級桿：質譜干擾。相同質荷比的其他離子影響待測離子的測定。
• 其中前三項可以統稱為非質譜干擾（基體效應）