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模擬環(huán)境類試驗設(shè)備相關(guān)計量方法
產(chǎn)品在生產(chǎn)，儲存，運輸和使用過程中不可回避地要隨環(huán)境條件的侵襲，這種環(huán)境條件侵襲通常有三種情況：
（1）氣候環(huán)境條件----高溫，低溫，濕度，霉菌，鹽霧，砂塵，淋雨日照等
（2）飛行環(huán)境條件----低溫低氣壓，高溫低氣壓，溫度沖擊，加速度，振動，沖擊
（3）運輸環(huán)境條件----碰撞，振動，沖擊等
為了適應(yīng)和經(jīng)受這些環(huán)境條件，國內(nèi)外生產(chǎn)廠家不斷推出自己好的環(huán)境試驗設(shè)備以滿足市場的需求。
現(xiàn)在實行的軍標(biāo)準(zhǔn)
● 美軍標(biāo)MIL-STO-810
● GJB150~20-86軍設(shè)備環(huán)境試驗方法
● GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
● GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗
● GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
● GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
● GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件