X光測厚儀Thick800A,天瑞儀器 1 分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測量精度要求。
無損：
測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：
實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測試點(diǎn)
簡易：
對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。
性價(jià)比高：
相比其他類類儀器，X光測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

  X光測厚儀Thick800A,天瑞儀器應(yīng)用領(lǐng)域
X光測厚儀主要針對(duì)金屬鍍層（鍍金，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等）厚度測試，廣泛應(yīng)用于線路板、五金工具，汽車配件，電子連接器，高壓開關(guān)，衛(wèi)浴等企業(yè)中，得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。

技術(shù)參數(shù)
重量：90 kg
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩(wěn)定性高
度適應(yīng)范圍為15℃30℃
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

X光測厚儀的工作原理是利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。X光測厚儀清晰明了,簡單易學(xué)，備受客戶青睞。
檢測實(shí)例
以下使用Thick800AX光測厚儀對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際檢測Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試，其測試位置如圖