專業(yè)大型溫泉鉆探隊(duì)

地震波探測法這種探測技術(shù)已運(yùn)用在水庫、大壩、隧道、崩塌地等公共工程的調(diào)查中。依探查深度的不同，可分為兩種：25 公尺深度內(nèi)的淺層地層與構(gòu)造探測，利用的是「折射震測法」；較深部的地層與構(gòu)造，則採用「反射震測法」。折射震測法是在地表以人工震源產(chǎn)生震波信號(hào)，信號(hào)進(jìn)入地下在地層間傳播。由于震波在各地層的傳播速度不同，當(dāng)震波從某地層進(jìn)入另一地層時(shí)，會(huì)發(fā)生折射現(xiàn)象，若地層愈深，震波速度愈快，則震波會(huì)因折射甚至全反射而返回地表。地表的受波器接收震波后，再根據(jù)震波傳播的「時(shí)間與距離關(guān)係」，計(jì)算出各地層的厚度與低速度帶的界線位置，并據(jù)以推估各地層可能對(duì)應(yīng)的巖性、構(gòu)造情形、破碎帶或軟弱帶的分布、可挖性及風(fēng)化情況，甚至灌漿效果等。折射震測法一般是採用剖面炸測方式，也就是把人工震源與受波器安排在同一直線上進(jìn)行炸測。這方式可求得震測線下地層的速度剖面，是一種經(jīng)濟(jì)且快速的調(diào)查方式。此外，折射震測法不受地形起伏影響，對(duì)高傾角的地層也有良好的解析度。這方法的探測結(jié)果，可提供鑿井公司選擇挖掘機(jī)具，以及考量埋設(shè)鑿井套管的深度。然而，這方法也有些限制，例如低速度地層不能位于高速度地層下，以及地層厚度不能太薄等。

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相較于上述方法，反射震測法適用于較深地層構(gòu)造的探測。它的原理是在地表以人工震源產(chǎn)生震波信號(hào)，信號(hào)進(jìn)入地下后，在傳播速度不連續(xù)的地層交界面產(chǎn)生反射，而這些震波在各地層交界面來回傳播的歷程，可利用埋設(shè)在地表的受波器加以記錄。反射震測法絕大部分採人工震源與震測線位于同一直線的排列方式，藉由人工震源與受波器的組合，以能在地層傳播的震波為媒介，攝取地下構(gòu)造的影像，是一種相當(dāng)有用的地下構(gòu)造照相術(shù)。

反射震測法的震測結(jié)果，經(jīng)電腦處理分析后，可看出地層沖積層的厚度與斷層破碎帶的分布，也可用于尋找斷層位置、不整合面、地層錯(cuò)動(dòng)、地層位態(tài)、巖盤位置等地層構(gòu)造。由于反射震測法能直接看到地層影像，是一種可信度相當(dāng)高的探測法，因此對(duì)于需要細(xì)部zi料的地質(zhì)調(diào)查，例如斷層偵測，這方法甚為可靠。值得一提的是，對(duì)于低速度地層位于高速度地層下的情況，反射震測法仍可解析出良好結(jié)果，但對(duì)于高傾角地層構(gòu)造的解析則仍然不易。

地電阻探測法地電阻探測法是一項(xiàng)已相當(dāng)成熟的地球物理探測技術(shù)，在工程地質(zhì)、地下水zi源、地下水汙染、地下地質(zhì)調(diào)查等方面，成效相當(dāng)卓著。依施測方式不同，可分為垂直地電阻探測法與剖面地電阻探測法兩種。前者主要在了解地層垂直方向的變化，后者則專長于探查地層水平剖面方向的變化。應(yīng)用在地層探測時(shí)，垂直地電阻探測因受限于測點(diǎn)分布，對(duì)于水平剖面方向構(gòu)造的解析能力較弱；剖面地電阻探測方式則對(duì)于垂直方向的解析能力稍嫌不足。因此，若能綜合兩種探測方式，應(yīng)能提高地層探測應(yīng)用的可行性，而地電阻影像剖面法便是兼具垂直與剖面方向解析能力的探勘方式。地電阻影像剖面法施測原理與反射震測法類似，是沿著一條既定方向的測線配置電極，以人工輸入一固定電壓。由于地下地層電阻的影響，可測得電壓值的變化，然后依據(jù)歐姆定律求出地層的視電阻及電阻層構(gòu)造。把視電阻換算為實(shí)際電阻后，與自然界不同土壤及巖石材料于特定條件下的實(shí)際電阻比較，就可推估地下不同深度各測點(diǎn)地層的巖性狀況，以及地層中因含有較高帶電離子而使得電阻較低的溫泉水位置。這方法除能達(dá)到垂直地電阻探測的「測深」目的外，由于沿測線方向的測點(diǎn)較密，因此也可反應(yīng)出地層水平方向的變化情形。此外，地電阻影像剖面法對(duì)地下水及地層材料含水量極為敏感，在測線下的地層電阻分布可以用二維空間表示，若配合電極在空間中的排列方式，組合多條平行的測線，則可以建立地層電阻在三維空間的分布圖，對(duì)于地層構(gòu)造、地下水位置和地層汙染的探測非常有效。

分析精度：指精密度和正確度。對(duì)系統(tǒng)誤差足夠小的分析方法，亦常特指精密度。分析精度滿足應(yīng)用需求是對(duì)分析方法的基本要求。分析范圍：用定量下限和定量上限界定。在*分析范圍內(nèi)分析精度能達(dá)到方法的分析精度。對(duì)濃度分析水樣，富集樣品可延伸定量下限，而稀釋樣品將“損失”分析精度。定量下限亦常稱作定量限。方法的穩(wěn)定性：指分析條件的變化對(duì)分析精度的影響小。采用穩(wěn)定性好的分析方法有利于獲得具有可比性（實(shí)驗(yàn)室間可比性、時(shí)間可比性等）的分析結(jié)果。基質(zhì)影響：每一分析方法都有其界定適用范圍，應(yīng)盡可能選用基質(zhì)適用范圍廣泛的分析方法。成本：當(dāng)上述要求得到滿足時(shí)，成本應(yīng)成為所考慮的因素。污染對(duì)人身的傷害：應(yīng)盡可能避免選用對(duì)環(huán)境有污染和對(duì)人體可能有傷害的分析方法。1.巖漿巖的礦物成分巖漿巖的礦物成分，是巖漿化學(xué)成分的反映。巖漿的化學(xué)成分 相當(dāng)復(fù)雜，但含量高、對(duì)巖石的礦物成分影響zui大的是二氧化硅（Si02)。由超基性巖到 酸性巖，不但SK)2的含量不同，其他成分含量也有相應(yīng)的變化，隨著SK)2含量的增加， 氧化鐵FeO、Fe202。、MgO和CaO等逐漸減少，而Na20和K20等則逐漸增加組成巖漿巖的礦物種類很多，其主要礦物有石英、正長石、斜長石、角閃石、輝石、 橄欖石及黑云母等。前三種礦物中硅、鋁含量高，顏色淺，稱為淺色礦物；后四種礦物弓 鐵、鎂含量高，顏色深，稱為暗色礦物。它們占巖漿巖礦物平均總含量的99%，所以稱愛 衆(zhòng)巖的造巖礦物。

巖漿巖的礦物組成是巖漿巖分類的重要根據(jù)。按照礦物在巖漿巖中含量的多少和在巖 漿巖分類上所起的作用，可以分為主要礦物、次要礦物和副礦物三類。主要礦物：是指某種巖石中含量較多（體積百分含量>10%)的礦物，而這類 礦物是巖石分類的依據(jù)。巖漿巖中zui主要的造巖礦物只有7?8種，它們是石英類、斜長 石類、正長石類、云母類、角閃石類、輝石類、橄欖石類和副長石類（霞石、白榴石等)， 其中長石類占59%,石英類占12%。但是作為一種具體巖石來講，往往僅由2?3種主要 礦物組成。例如，花崗巖類的主要礦物是長石（正長石和斜長石）和石英，缺少一種便不 能稱為花崗巖。