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淺析漆膜測厚儀的五大測量影響因素
今天小編給大家講講漆膜測厚儀的五大測量影響因素：
1、不同鍍層材料引進的誤差：
通常被測鍍層材料有銅、鋁、鉻等,它們的相對磁導率分別為0.99992、1.000008和1.000045。顯然,都取為1是相當的。因此,它們之間的差異不會引進測量誤差。另外,只要合理選擇激勵頻率f(儀器設計時選定),電導率叮的影響是可以得到控制的。
2、粗糙度的影響：
由于被測件基底和被測表面粗糙度的變化,使測量結果相差懸殊,因而不能得到真實的鍍層厚度值。試驗結果表明,當被測基底和被測表面粗糙度Rz值在6.3拜m(包括6.3戶m)以下時,對被測結果的影響可以忽略不計;當粗糙度R。值在6.3尸m以上時,對被測結果有明顯的影響。對于刀痕較寬的被測表面,其測量結果受測點位置的影響很大。對這樣的被測件,取4一5個測點的平均值作為測量結果,可以相對地減小其影響。表面粗糙度不同,直接改變了磁路間隙的大小。粗糙度數值越大,氣隙越大,增大了線圈到基底的距離,所以測量值增大。反之,測量值減小,更接近鍍層的真實厚度。
3、被測基底厚度的影響：
校對儀器時采用的基底厚度多是較大的,而被測件的基底厚度一般變化較大。當被測件基底厚度大寸;IOmm時,其厚度變化對測量結果的影響可以忽略不計。當基底厚度小J二10mm時.其影響就不能忽略,特別是小于3mm時,其影響已可超出測量值的5%。因此,在測量較薄的工件時,必須用和被測基底厚度相當的基底校對儀器。這是因為,當工件較薄時,渦流效應大大降低,使測量結果的數值明顯加大。為了解決上迷問題,可以將薄的被測件放在較厚的基底上測量。實踐表明,這樣作就可以避免渦流效應的影響。
4、曲率半徑的影響：
渦流測厚儀使用的校對樣板和校對時用的基底多為平面型,被測件表面往往不是平面,而是外圓面或內孔面。這樣的彎曲表面對測量結果有很大的影響。這主要是由于改變了測頭(線圈)和被測表面空氣間隙。為此,使測頭沿軸向母線測量,可以得到較滿意的測量結果。但是,當曲率半徑較小時,為提高測量結果的準確度,應當根據所用測頭的具體情況,做必要的試驗才成。在仲裁檢測時,尤其應當如此。如我們為煤碳部驗收德國進口的液壓支架時,預先按被測件曲率半徑尺寸作了校對件,使驗收工作收到了滿意的結果。
5、被測部位的影響：
試驗表明,測量部位不同,測量結果的數值就不同,如靠近邊緣處和棱角處,由于磁路截面減小,渦流效應降低,測量結果數值增大。所以,應當避免在靠近邊緣和棱角處測量。