金秋九月，秋意漸濃。領(lǐng)拓儀器喜迎新的合作伙伴Sensofar。Sensofar-Tech,S.L成立于2001，是一家秉持高質(zhì)量標準，深耕表面測量技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)公司。為研發(fā)和工業(yè)制造提供完善的解決方案。

產(chǎn)品上新

S neox白光共聚焦干涉顯微鏡是Sensofar專為速度而設(shè)計，品質(zhì)管控和研發(fā)的解決方案。新型S neox 在性能、功能、效率和設(shè)計方面優(yōu)于現(xiàn)有的3D光學輪廓儀，是Sensofar的新一代測量系統(tǒng)。

精準易用
01易于使用
Sensofar 致力于為客戶提供令人難以置信的體驗。隨著第五代 S neox 系統(tǒng)的誕生，我們的目標是使其易于使用、直觀且更快速。即使是初學者，只需點擊一下，即可操作測量。模塊化設(shè)計的軟件，使系統(tǒng)適應(yīng)用戶多樣的需求。
02速度
通過采用新的智能和算法以及新型相機。數(shù)據(jù)采集速度達180fps。標準測量采集速度比以前快5倍。S neox 成為市場上速度最快的表面測量系統(tǒng)。

功能靈活多樣
豐富的自動化模塊，方便進行質(zhì)量管控。從操作員訪問權(quán)限控制、測量程序存儲、兼容性到條形碼/QR 讀取器，以及我們專有 SensoPRO 軟件中的定制插件，都可以自動生成分析報告。我們的優(yōu)化解決方案能夠在 QC 環(huán)境中工作，其具有靈活性和易于使用的界面，可編程并24小時工作。

四合一技術(shù)

01 干涉  
PSI 相移干涉法可以用于測量亞埃分辨率的高度光滑和連續(xù)表面的高度。可以使用極低的放大率 (2.5X) 測量具有相同高度分辨率的大視場。
CSI 相干掃描干涉法使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度，達到1 nm的高度分辨率。

02 共聚焦 
共聚焦輪廓提供最高的橫向分辨率，最高可達0.15 μm水平分辨率，空間采樣可減少到0.01 μm，這是關(guān)鍵尺寸測量的理想選擇。高達NA (0.95)和放大倍率(150X) 的物鏡可用于測量局部斜率超過 70°的光滑表面。對于粗糙表面，最高可允許 86°。

03Ai 多焦面疊加
主動照明多焦面疊加是一種為了測量大粗糙表面形狀而開發(fā)的光學技術(shù)。通過使用主動照明，即使在光學平滑的表面上也能獲得更可靠的測量數(shù)據(jù)。該技術(shù)的亮點包括高斜率表(高達 86o),最快的速度(3 mm/s)和較大的垂直范圍測量。

04速度
薄膜測量技術(shù)快速、準確、無損地測量光學透明層的厚度，且不需要樣品制備。可以在不到一秒鐘的時間內(nèi)測量出50 nm到1.5 μm的透明膜。測量光斑取決于物鏡放大率，最小可低至0.5 μm，最高可達40 μm。

S neox 應(yīng)用范圍廣泛，功能強大，能提供全面、最完整的解決方案。如果想要探索新產(chǎn)品的應(yīng)用，那就趕快測樣交流一下吧！