近場天線其他附件產品應用                                 

（1）用來查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭；

（2）用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；

（3）檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器位置，檢測模塊附近的磁場環境；

（4）進行EMI測試，從而快速定位干擾源，減少產品研發周期，減少往返實驗室的時間和金錢，減少不必要的錯誤測試。

二、近場天線其他附件產品實物圖

三、技術指標

四、操作步驟

（1）將無源探頭NP1的SMA口連接到SMA轉接線，然后再由轉接線連接到能接收信號的相關設備；

（2）當用NP1探頭確定好信號的大致位置后，依次換NP2、NP3探頭進行精確定位，確定好信號的準確位置后，zui終可以從接收設備上觀察到信號的動態變化。

五、產品性能

（1）NP1磁場近場探頭，可探測范圍10cm以內，用于定位檢測泄漏的磁場，頻率響應曲線：

由曲線走勢可以看出該探頭在30MHz到3GH*有較平坦的增益。

（2）NP2號磁場近場探頭，可探測范圍3cm以內，用于精確檢測泄漏的磁場，頻率響應曲線：

由曲線走勢可以看出該探頭在30MHz到3GH*有較平坦的增益。

（3）NP3號磁場近場探頭，分辨率為5mm，用于電纜電磁泄漏的測試，頻率響應曲線：

由曲線走勢可以看出該探頭在30MHz到3GH*有較平坦的增益。

（4）NP4號磁場近場探頭，分辨率為2mm，可檢測垂直方向的磁場，用于PCB布線產生的電磁場測試，頻率響應曲線為：

由曲線走勢可以看出該探頭在30MHz到3GH*有較平坦的增益。

六、示例說明

當查找干擾源時，步驟如下：

（1）通常先使用大尺寸的探頭確認干擾源大致所在的區域，連接方式如下，

（2）再切換小直徑的探頭縮小查找范圍，逐步辨識電子模塊中的干擾磁場源，如下圖所示，

    zui后不僅可以定位到干擾源，還可以檢測到干擾信號的動態變化。

七、注意事項

無源近場探頭在測試過程中要注意先用較大的探頭尋找干擾源的大概位置，然后再換較小一點的探頭來確定干擾源的準確位置。