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深圳市秋山貿易有限公司
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公司信息
Cresbox日本napson階段集成式半自動四探針測量儀
| 參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號 Cresbox
- 品牌 其他品牌
- 廠商性質 代理商
- 所在地 深圳市
更新時間：2020-09-07 16:32:36瀏覽次數：3067
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息，謝謝!
日本napson階段集成式半自動四探針測量儀
測量規格
測量對象
- 與半導體/太陽能電池材料有關（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣品硅外延，離子注入樣品
- 其他（*請聯系我們）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻率（電阻率）] 1 m至300 kΩ·cm
[板電阻] 5 m至10 MΩ/ sq
傳單
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映射圖像
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/2D%E5%86%86%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B0.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/2D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B0.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/3D%E5%86%86%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B0.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/3D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B0-640x561.jpg)
高規格類型的電阻率（比電阻）/薄層電阻半自動四探針法測量儀器
產品名稱：RT-3000 / RG-2000（RG-3000）
產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/DSC08981-640x480.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/RT3000RG2000_2_150626-640x480.jpg)
產品特點
- 具有世界醉高電阻測量范圍的4探針測量儀
- 用于圓/方測量的可編程測量模式和繪圖軟件
- 自檢功能，厚度/周邊位置/溫度校正功能（用于硅）
- 根據電阻范圍從2種類型的測試儀中選擇
- （RT-3000（S）：寬范圍，RT-3000（H）：高電阻范圍）
測量規格
測量對象
- 與半導體/太陽能電池材料有關（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣本
- 硅基薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他（*請聯系我們）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
?選件（兼容大直徑尺寸：RG-3000型）：?12英寸，?210×210mm
測量范圍
①RT-3000（S）；
[電阻率（電阻率）] 100μ- 1MΩ·cm
[層電阻] 1m-
10MΩ / sq②RT-3000（H）；
[層電阻] 10m-1GΩ/ sq
傳單
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映射圖像
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/2D%E5%86%86%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B01.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/2D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B01.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/3D%E5%86%86%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B01.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/3D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B01-640x561.jpg)
平板（液晶等）電阻率（比電阻）/薄層電阻的半自動測量
商品名稱：RG-100PV
產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/RG-100PV-640x480.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/DF-9P.jpg)
![半自動類型<br />（多點測量系統[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/RG-200PV-main.jpg)
產品特點
- 用于玻璃基板上薄膜的4探針半自動測量儀
- XY軸機械平臺
- 對于平面內多點測量，均勻螺距或隨機螺距的可選設置，已安裝2-D / 3-D映射軟件
測量規格
測量對象
- 與半導體/太陽能電池材料有關（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
- 擴散樣品硅薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導體有關的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
- 其他（*請聯系我們）
測量尺寸
大300 x 300毫米（可選;大500 x 500毫米）
測量范圍
[電阻率（比電阻）] 1 m至200Ω·cm
[板電阻] 1 m至1,000kΩ/ sq（可選；醉高10 MΩ/ sq）
日本napson階段集成式半自動四探針測量儀
