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影像學(xué)檢查在基板和金屬表面缺陷檢測(cè)上的運(yùn)用
2022-10-19 閱讀(817)
影像學(xué)檢查在基板和金屬表面缺陷檢測(cè)上的運(yùn)用
光學(xué)分辨率1.8μm，速度檢測(cè)！用于基板和金屬表面的缺陷檢測(cè)！
概述
使用高分辨率相機(jī)和高精度 XY 載物臺(tái)的二維檢測(cè)系統(tǒng)。
適用于光學(xué)薄膜、片材、觸控面板等表面劃痕、異物、缺陷的檢測(cè)。
憑借 1.8 μm 的光學(xué)分辨率，可以進(jìn)行超高清檢測(cè)。
它還可以測(cè)量尺寸和檢查二維沖壓產(chǎn)品。
特征
自動(dòng)保存檢測(cè)數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素：900萬像素
高光學(xué)分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細(xì)的檢測(cè)點(diǎn)。
適合檢查觸摸面板的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。
用法
用于檢查觸摸面板和異物等缺陷！
觸控面板周邊電極缺陷檢測(cè)
板材表面劃傷和異物檢查
基板缺陷檢查
