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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產品: 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀

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上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP
上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號
  • 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 上海市

更新時間:2024-08-31 13:56:19瀏覽次數:1307

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【簡單介紹】
價格區間 面議
上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。
【詳細說明】

上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP

-----庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差

 

【簡單介紹】

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。
COULOSCOPE® CMS2 STEP 
CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能(同時測定厚度和電位差)。 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 (根據ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據庫侖法得出, 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2 
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應用程式適用于多鍍層系統。

 

序號描述規格型號
01庫侖測厚儀  CMS2 STEP 采用庫侖方法的鍍層測量儀,有中文操作系 統,并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大 LCD 顯示器;帶鍵盤;預先定義大約 100 種常 用金屬鍍層;50 條存儲記錄用于特定應用的 參數和 3000 個測量值。該價格包括電源電 纜,塑料灰塵罩及操作手冊。605-087
02V24 測量臺600-782
03庫侖標準片 STEP 光亮鎳:6 μm 左右 半光亮鎳:10 μm 左右 測量面積:60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書605-008
04庫侖法電解液 F22 1L 因受溫度影響,使用前請將 PH 值調到 2.9 左 右。603-547
05庫侖標準片 Cu/Fe  10-15um Cu:10 - 15 μm 測量面積:60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書 605-001
06庫侖法電解液 F4 1L (國內提供)600-822A
07庫侖標準片 Ni/Cu 6-9um Ni:6 - 9 μm 測量面積:60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書 605-004
08庫侖法電解液 F6 1L (國內提供)600-823A
09庫侖標準片 Cr /Fe,Ni,Al Cr:0.1-0.3 μm 測量面積:60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書604-996
10庫侖法電解液 F1 1L (國內提供) 600-820A
11小臺虎鉗600-800

 

COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡單的操作和圖示的用戶指導
使用V18支架實現半自動化測量
電解速度和測量面積的簡單選擇 (0.1 ----- 50 μm/min) 和(0.6 ----- 3.2 mm Ø)
電壓曲線圖形顯示
圖形和統計分析 多語言和計量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能 
同時測量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡單準備
可調節的電解電流

 

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統概述 一個測量系統包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個有測量槽的支架(例如:STEP測量槽)。各種測量臺設計適合不同的應用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利,確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。校準 校準時會產生一個修正系數 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化,需要該修正系數。 



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