您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 自動(dòng)化度 | 手動(dòng) |
產(chǎn)品分類品牌分類
-
發(fā)氣性測定儀 針入度試驗(yàn)器 二氧化碳收集測定儀 導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 電化學(xué)工作站 超聲波能量（頻率）分析儀 視頻監(jiān)控測試儀/工程寶 甲苯不溶物含量測定儀 滲壓計(jì) 界面張力儀 吳茵混調(diào)器 密度計(jì) 粉末電阻率測試儀 涂布機(jī) 附著力測試儀 土壤腐蝕速度測量儀 混凝試驗(yàn)攪拌儀 烤片機(jī) 濕式氣體流量計(jì) 藥物凝固點(diǎn)測定儀 顆粒強(qiáng)度測定儀 提拉鍍膜機(jī) 勻膠機(jī) 造型材料發(fā)氣性測定儀 造型材料發(fā)氣性測試儀 粘度計(jì) 靜電測試儀 熔融指數(shù)儀 回彈儀 振實(shí)密度儀 溴價(jià)溴指數(shù)測定儀 石油行業(yè)儀器 殘余應(yīng)力檢測儀 鋼筋檢測儀 混凝土檢測儀 炭黑含量測試儀 差示掃描量熱儀 四探針測試儀 熔點(diǎn)儀 鋼化玻璃表面平整度測試儀 油料電導(dǎo)率儀
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
LP-M-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
特點(diǎn)：
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場合操作使用！
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
探頭選配：
根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
技術(shù)參數(shù)：
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率: 0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方塊電阻: 0.050～ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺(tái)則由選配測試臺(tái)決定如下：
直 徑：SZT-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15～130mm。
SZT-C方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm。
長(高)度：測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級
量程（Ω-cm/□） | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
電阻測試范圍 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | |||
4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺(tái)。
LP-M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
LP-M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
基本技術(shù)參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
電 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方塊電阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺(tái)則由選配測試臺(tái)和測試方式?jīng)Q定
直 徑：SZT-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15～130mm。
SZT-C方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm。
長(高)度：測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級
量程（Ω-cm/□） | 9.999 | 99.99 | 999.9 | 9999. |
電阻測試范圍 | 0.010～9.999 | 9.99～99.99 | 99.99～999.9 | 999.9～9999 |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050～9.999 | 9.99～99.99 | 99.99～999.9 | 999.9～2000 |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | ||
4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
