Krautkramer MIC 10超聲波硬度計華東代理
GE的MIC 10可根據UCI方法（超聲波接觸阻抗 - 根據ASTM A1038和DIN 50159標準化）快速方便地進行現場硬度測試。超聲波硬度計由手持式PDA和CUI測量探頭組成，兩者之間通過線纜連接，通過硬度計前端金剛石壓頭與被測件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計量該頻率的變化達到測量硬度的目的。

Krautkramer MIC 10超聲波硬度計華東代理

 

GE的MIC 10可根據UCI方法（超聲波接觸阻抗 - 根據ASTM A1038和DIN 50159標準化）快速方便地進行現場硬度測試。超聲波硬度計由手持式PDA和CUI測量探頭組成，兩者之間通過線纜連接，通過硬度計前端金剛石壓頭與被測件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計量該頻率的變化達到測量硬度的目的。

IC 10系列MIC 10的規格使用經過認證的Vickers測試塊。 當使用脊狀支撐（例如MIC-222試驗臺）時，5個讀數的平均值應在其認證值的±3.6％之內。 手寫測試應至少對10個讀數進行平均，公差為±5％。 作為比較的參考，MIC 10系列可實現的±3.6％HV范圍轉換為羅克韋爾C標度，如下表所列。

此外，為了與臺式Rockwell測試儀比較，還列出了由ASTM E18定義的這些硬度水平的所需重復性。材料表面中的金剛石壓痕被電子地測量并且即時顯示，而不使用通常與常規硬度測試儀相關的麻煩的光學評價。

MIC10超聲波硬度計探頭和附件：
手動標準探頭MIC201A：10N/1Kgf負載，特別適用于小凹槽表面
手動標準探頭MIC205A：50N/5Kgf負載，適用于大多數的應用
手動標準探頭MIC2010A：100N/10Kgf負載，適用于粗晶粒材料和粗糙表面
手動短探頭MIC201AS（10N/1Kgf負載）/MIC205AS（50N/5Kgf負載）
手動長探頭MIC201AL（10N/1Kgf負載）/MIC205AL（50N/5Kgf負載），配備有一個較長的振蕩棒（37mm）。用于測量輪廓表面，或工件結構深的內腔/凹槽中。如蝸桿齒輪和嚙合齒輪。
電動探頭MIC2103A（3N/0.3Kgf）、MIC211A（大約8N/0.8Kgf）和電動探頭MIC2101A（1N/0.1Kgf），配置有電動控制的維氏硬度計金剛石，能獲得可靠的測量結果。
檢驗合格的硬度參考塊

測量原理簡析: 傳統的維氏或布氏硬度測試需要在負載下由其壓痕產生的壓痕的面積的光學評價。 使用UCI（超聲波接觸阻抗）方法的測試，測試壓痕的對角線（為了確定維氏硬度值而必須已知）的對角線不像通常那樣光學地評估，但是凹痕區域通過測量 超聲頻率。 UCI方法適用于測試薄的氮化或滲碳的表面硬化層或涂層如鉻。為了確保讀數不受襯底材料的影響，必須考慮維氏硬度鉆石的穿透深度。通常，層的厚度應該是壓痕深度的十倍的zui小值。但是，盡管如此，試樣的總厚度應該至少為2-3mm，否則樣品必須連接到支撐板 通常，通過壓痕采樣的面積越大，測試結果越*。非均勻材料或由大粗晶粒組成的微觀結構的變化被平均，提供*的結果。較大壓痕的另一個優點是對表面光潔度的要求較低，從而減少了準備表面的時間。相比之下，回彈測試儀的各種沖擊裝置產生的壓痕遠大于由任何UCI探針產生的壓痕。當測試大型鑄件和鍛件時，建議使用回彈儀。測試由均質材料或已經接受表面硬化處理的那些組件構成的小部件需要由UCI探針產生的較淺的凹槽。

 MIC 10超聲波硬度計特征：

有效支持重復測試和文檔
易于硬度測試操作
單個或作為活動算術平均值
預編程校準參數
儀器操作可根據具體測試要求定制
根據ASTM A 1038標準化
探頭負載從1N（HV0.1）到98N（HV10）
自動轉換成不同的硬度和抗拉強度
數據記錄器版本，帶有用于測量數據和儀器設置的內部數據存儲器

 

 

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