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菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL230信息
閱讀：82 發布時間：2025-4-29FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。該儀器具備以下顯著優勢：
應用領域廣泛：適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時可檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
性能穩定可靠：擁有良好的長期穩定性，大幅減少儀器校準頻率；比例接收器實現高計數率，保障高精度測量。
測量方法先進：采用FISCHER基本參數法，無論是鍍層系統，還是固體和液體樣品，無需標準片即可進行測量和分析。
菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XDL230產品應用
測量大規模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍溶液