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菲希爾X熒光射線測厚儀XDL簡介

2025-5-2  閱讀(166)

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德國FISCHER X-RAY XDL230

菲希爾X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品簡介:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器,比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品應用:

測量大規模生產的電鍍部件

測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

測量印刷線路板

分析電鍍溶液


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