国产在线无码视频一区_免费看片A级毛片免费看_国产午夜福利精品一区二区三区_99久久人妻精品免费一区

詳細摘要：進口二手dsc-tga-tma-dma：熱分析是指用熱力學參數或物理參數隨溫度變化的關系進行分析的方法。熱分析定義為：“熱分析是測量在程序控制溫度下，物質的物理性質與溫度依賴關系的一類技術。"根據測定的物理參數又分為多種方法

詳細摘要：二手dsc 二手熱分析儀DSC是德國耐馳公司新推出的一款差示掃描量熱儀，該產品引入了 DSC領域i新技術，重新設計了傳感器與爐體結構，集結構堅固、易于操作、高靈敏度、高穩定性等優點為一體，若使用液氮作為冷卻系統，溫度范圍可至170度…600度。

詳細摘要：二手耐馳dsc-200 f3 是德國耐馳公司最新推出的一款差示掃描量熱儀，該產品引入了 DSC 領域，重新設計了傳感器與爐體結構，集結構堅固、易于操作、高靈敏度、高穩定性等優點為一體，溫度范圍寬廣，可配備多種冷卻方式。DSC 200 F3 可以配備帶 20 個樣品／參比

詳細摘要：二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優點是分辨率高，可觀察到納米級別的細節，景深大，能清晰呈現三維形貌，可同時進行成分分析。

詳細摘要：二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求

詳細摘要：二手蔡司場發射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米

詳細摘要：二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSD SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射

詳細摘要：二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數：5×～1000000×，連續可調 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

詳細摘要：二手鎢燈絲電鏡 二手SEM: 日本電子，日立，FEI，蔡司，基恩士，泰斯肯，以上品牌各一。歡迎咨詢鎢燈絲電鏡和場發射電鏡。

詳細摘要：二手電鏡出租 二手SEM出售租賃流程：

步驟一：洽談選型

步驟二：簽訂合同

步驟三：支付押金及租金

步驟四：設備交貨

步驟五：租期滿后退回儀器，退還租金

詳細摘要：二手 JSM-IT300經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

詳細摘要：提供全套的實驗室RoHS檢測儀出租租賃服務,并且提供RoHS檢測儀中耗材液氮,氫氣,氦氣直接供應.目前儀器有ROHS檢測儀,質譜儀GCMS,無損透視儀X-RAY,掃描電鏡SEM,等離子光譜ICP,原子吸收AAS.一站式貼心服務.

詳細摘要：能量色散型EDXRF熒光光譜儀RoHS檢測儀中MESA-50是EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供ROHS.ELV和無鹵檢測,對含有如Pb,Cd,Hg,Br樣品進行篩選檢測,如今在世界范圍內廣泛應用.同時Cd檢測下線值為1PPM,檢測速度在50-150秒之間.

詳細摘要：rohs檢測儀租賃rohs檢測儀出租流程:→確認需求→推薦產品型號→確認報價合同→儀器出庫→設備安裝調整→儀器設備回庫→設備到期.

詳細摘要：rohs檢測儀器全國出租租賃是一款對非破壞樣品的固體，粉末和液體樣品從元素（11Na）到（92U）快速準確的定性和定量分析。

詳細摘要：ROHS檢測儀器出租判斷產品是否符合RoHS指令或客戶需求是絕大多數EDX的日常工作，EDX-LE精煉EDX-720和EDX-GP等各種分析方法，建立了專門的自動篩選分析法.迅速便捷.

詳細摘要：二手熱分析儀dsc-60plusDSC是聚合物材料，藥品，食品等的研發和質量控制領域中用于材料表征的重要熱分析儀之一。通過分析高性能，高性能新材料的開發，我們將實現高靈敏度和易操作性。

詳細摘要：二手日本電子 SEM電鏡+EDX能譜日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛性外觀設計還特別吸引眼球。

詳細摘要：二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發射出的電流激發到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的

詳細摘要：二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有所提高