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產品簡介
詳細介紹
光切法顯微鏡
光切法顯微鏡
一、用途：
本儀器是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
二、儀器的成套性：
1．儀器本體1臺
2．測微目鏡1只
3．坐標工作臺1件
4．V型塊1件
5．標準刻尺（連盒）1件
6．7倍物鏡1組
7．14倍物鏡1組
8．30倍物鏡1組
9．60倍物鏡1組
10．可調變壓器220/4～6/5VA1只
11．2.1瓦6伏燈泡(備用件)3只
三、規格
測量范圍不平度平均高度值 （微米） | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數 | 物鏡組件 工作距離 （毫米）
| 視 場 （毫米） |
＞1.0～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80 | 9 8～7 6～5 4～3 | 60timesN.A.0.55 30timesN.A.0.40 14timesN.A.0.20 7timesN.A.0.12 | 510times 260 times 120 times 60 times | 0.04 0.2 2.5 9.5 | 0.3 0.6 1.3 2.5 |
攝影裝置放大倍數 約6倍
測量不平度范圍 (1.0～80)微米
不平寬度 用測微目鏡 0.7微米～2.5毫米
用坐標工作臺 (0.01～13)毫米
儀器重量 約23公斤
外形尺寸 約180×290×470毫米
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