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sop封裝高低溫測試箱 sop封裝高低溫檢測設備的編程方式有兩種，一種是可程式，另一個種是定值式，那么可程式的就常被稱為可程式高低溫實驗箱。可程式是指可編程式，按照溫度變送器的運作流程，人工編制試驗條件程序，輸入芯片中。 芯片按照程序，以極短的時間掃描各個端口的狀態，并按照程序將結果輸出到另外一些端口。 而設備通過控制器指令自動完成顧客設定的程式內容要求。愛佩公司生產的可程式高低溫實驗箱采用智能型可程式溫度控制器，以液晶觸摸屏方式顯示溫度值，有加熱器、傳感器故障指示、變送功能、帶有RS/232或RS/485通訊接口可供遠程監控，顧客可通過觸屏編程自行設定系統參數。采用高精度的濕敏電阻為傳感器，對設備的溫度和濕度進行實時監控并通過負載進行有效的控制。該儀表集測量、顯示、控制及通訊于一體，精度高、測量范圍寬，是一種適合于各個行業和領域的溫度測量控制儀表。
sop封裝高低溫測試箱 sop封裝高低溫檢測設備的主要功能：
1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏，中英文操作畫面任意選擇，觸控式屏幕面板，操作簡單，美觀大方，程序編輯容易。
2、zui大具有120組可編定的程序容量，每組可記憶100段溫度自行操作。
3、具有多項擴充功能，控制器可經由RS/232或RS/485接口與計算機聯機，也可定制USB導出數據，可連接打印機打印高低溫度曲線監控數據。
4、可顯示完整的系統操作狀況、實時顯示執行及設定程序曲線。
5、故障報警，并顯示排除故障的方法。
6、采用*的微處理器芯片，可靠性高，抗干擾能力強。
執行與滿足標準
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產品基本環境試驗規程 試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 標準；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環境試驗規程.第2部分:第1節.試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
型號規格參數如下:
型號AP-GD-150 內箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜ 外箱尺寸：970×1360×970㎜
型號AP-GD-150 內箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜ 外箱尺寸：1070×1460×1070㎜
型號AP-GD-225 內箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜ 外箱尺寸：1070×1610×1170㎜
型號AP-GD-408 內箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜ 外箱尺寸：1170×1710×1270㎜
型號AP-GD-800 內箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1290㎜
型號AP-GD-1000 內箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1470 ㎜
溫度范圍： －70℃～+150℃(可只選擇-40℃～+150℃；-20℃～+150℃；0℃～+150℃；)
溫度波動度：±0.5℃
溫度解析精度：0.01℃
溫度控制精度：±0.2℃
升溫/降溫時間：3.0℃/分鐘；1.0℃/分鐘(此升降溫速率是根據國家標準要求的，要定制快速升降溫的顧客請下單時跟愛佩業務員說明，謝謝）
電源：3φ5 380V AC±10% 50/60HZ或1φ3 220V AC±10% 50/60HZ（根據功率大小而配置）
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