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| 應用領域 | 能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件 |
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SICK超聲波傳感器UM30-213118
通過運行時間測量實現高測量準確度，不受物體顏色(包括玻璃、液體和薄膜)的影響進行物體識別
掃描范圍可達 8,000 mm
顯示屏可以實現快速且靈活的傳感器調整
抗灰塵、抗污和抗霧能力強
同樣提供組合式的模擬和信號輸出端
同步和復合運行模式
靈敏度可調節
三種操作模式：距離對象 (DtO)、窗口 (Wnd) 或傳感器和背景之間的對象 (ObSB)
優勢：
緊湊的結構尺寸使其易于集成至設備
通過多種參數設置方法能靈活匹配至應用要求
通過使用同步和復合模式排除相互影響提供的測量結果
可通過傳感器同步進行低成本的區域監控
通過顯示屏的離線傳感器參數設置能夠進行預配置并節省設備調試時間
內置溫度補償，確保達到*的測量準確度，以獲得最佳效果
ObSB 模式能夠識別傳感器和示教背景之間的所有物體
SICK超聲波傳感器UM30-213118
1016311 WL12G-W530 REFLEXIONS-LICHTSCH.
1016344 WT4-2P330M14 REFLEXIONS-LICHTT.
1016345 WS/WE4-2P.M01 EINWEG-LICHTScANKE
1016353 TGSS15-111111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016354 TGSE15-111111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016355 TGSS15-121111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016356 TGSE15-121111 TESTABLE GRID SYSTEM
1016359 WT27L-2S830A REFLEXIONS-LICHTT.
1016360 WT27L-2S830A01 REFLEXIONS-LICHTT.
1016361 DS60-P21111 DISTANZ SENSOR
1016366 MST203-1000 MEASUREM.-SOFTW.-TOOL
1016428 M20S-03140A120 MULTIPLE BEAM SYSTEM
1016429 M20E-03140A120 MULTIPLE BEAM SYSTEM
1016440 M20S-081A3A120 MULTIPLE BEAM SYSTEM
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