目錄:東莞市臺淮電子科技有限公司>>日本電子 JEOL>>掃描電子顯微鏡>> JSM-7610FPlus熱場發射掃描電子顯微鏡
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發射 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,生物產業,電子/電池 |
熱場發射掃描電子顯微鏡特性：
半浸沒式物鏡
半浸沒式物鏡在樣品周圍形成強磁場，因而可以獲得超高分辨率。
High Power Optics
High Power Optics 是*的電子光學系統，既實現了高倍率觀察又能進行多種分析。
熱場發射掃描電子顯微鏡浸沒式肖特基場發射電子槍，可以獲得10 倍于傳統肖特基場發射電子槍（FEG）的探針電流，光闌角控制鏡（ALC）在探針電流增大時也能保持小束斑，兩者組合起來能提供200 nA 以上的探針電流。強大的High Power Optics 系統，從高倍率圖像觀察到EDS分析和EBSD解析可以一直使用高分辨率的最小物鏡光闌而不需要改換。
浸沒式肖特基場發射電子槍銃
浸沒式肖特基場發射電子槍通過和低像差聚光鏡組合，可以有效地收集從電子槍內發射的電子。
光闌角控制鏡（ACL）
光闌角控制鏡（ACL）配置在物鏡的上方，在整個探針電流范圍內自動優化物鏡光闌的角度。因此，即使照射樣品的探針電流很大，與傳統方式相比，也能獲得很小的電子束斑。
即使探針電流很大，束斑直徑也很小
長時間分析時穩定度也很高
柔和電子束（GB:GENTLEBEAMTM）模式
GB 模式的效果
GB 模式在低電壓下提高分辨率
左圖一般模式，右圖GB模式：
增強了的低加速電壓下的分辨率
r-過濾器
LABE檢測器（選配件）
利用LABE 檢測器獲取低角度背散射電子像
擴展性
能譜儀（EDS）
波譜儀（WDS）
陰極熒光系統（CL）
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