Thermo Scientific™Verios™ XHR SEM掃描電子顯微鏡（SEM）旨在提高您實驗室的可發(fā)布結果。Verios SEM通過將整個1 keV至30 keV能量范圍內(nèi)的亞納米分辨率擴展到新型材料，例如催化劑顆粒，納米管，孔隙，界面，生物物體和其他納米級結構，從而提供了新的見解。無需過渡到TEM或其他成像技術即可獲得高分辨率，高對比度的圖像。

Verios SEM提供了研究應用所需的靈活性，可容納大型樣品，例如整片晶圓或冶金樣品。Verios SEM可在1至30 kV能量范圍內(nèi)以亞納米級分辨率提供精確的成像。它提供了在各種應用中對材料進行精確測量所需的出色對比度，而又不影響傳統(tǒng)SEM的高通量，分析能力，樣品靈活性和易用性。Verios SEM具有*的技術，例如用于提高熱穩(wěn)定性的定焦鏡和用于更高偏轉線性的靜電掃描。在選擇參數(shù)，處理大型樣品或支持其他應用程序（例如分析或光刻）時，它非常靈活。利用Verios XHR SEM，偶爾的用戶和專家都可以在短的時間內(nèi)訪問準確而完整的納米級數(shù)據(jù)。

 

產(chǎn)品特點

? 使用Elstar™單色儀以及優(yōu)化的光學器件和檢測功能，可以在您的樣品要求的操作條件下獲得準確，真實的納米級信息：對于非導電樣品，其值為500 eV及以下；對于光束敏感樣品，則為低劑量操作。

? 收集完整的納米級信息：得益于Elstar*的四重SE / BSE檢測和過濾功能，地形和材料形成了對比，得益于我們*的多段STEM技術，在結構上形成對比。

? 使用Elstar的精確靜電束偏轉和*進的校準方法，可以依靠遠遠超出普通SEM的精確計量。

? 體驗快速，精確的樣品管理：容納大型樣品，可控地清潔樣品表面，以極低的放大倍數(shù)快速檢查并導航到感興趣的區(qū)域。

? 使用電子束光刻技術，電子束誘導的材料直接沉積，執(zhí)行創(chuàng)新且精確的納米加工，并在上下或傾斜位置檢查創(chuàng)建的3D結構。

? 發(fā)現(xiàn)一個針對簡單用戶而優(yōu)化的平臺，它具有簡單而強大的界面，以及可以依靠儀器的靈活性和擴展控件來針對特定實驗精確調(diào)整儀器的SEM專家。 

 

參數(shù)

 電子光學器件

Elstar XHR 浸沒透鏡 FESEM 鏡筒

? Elstar 電子槍，配有：

  - 肖特基熱場發(fā)射體

  - 熱拔插功能

  - UC 技術（單色儀）

? 60 度雙物鏡（帶極片保護）

? 加熱的物鏡孔隙

? 靜電掃描

? ConstantPower™ 透鏡技術

源壽命

? 電子源壽命：12個月

電子束分辨率

（需要現(xiàn)場調(diào)查以保證分辨率規(guī)格）

? 工作距離下的分辨率

  - 30 kV 時為 0.6 nm (STEM)

  - 15 kV 時為 0.6 nm

  - 2 kV 時為 0.6 nm

  - 1 kV 時為 0.7 nm

  - 500 V 時為 1.0 nm (ICD)

  - 200 V 時為 1.2 nm (ICD)

大水平場寬

? 電子束：在 4 mm 工作距離下大于2.0 mm

實際到達能量范圍

? 20 eV - 30 keV

探針電流

? 電子束：0.8 pA - 100 nA

真空系統(tǒng)

? 1 x 210 l/s TMP

? 1 x PVP（干式泵）

? 2 x IGP

? 樣品倉真空：< 2.6 * 10-6 mbar（24小時抽氣后）

探測器

? Elstar 透鏡內(nèi) SE 探測器 (TLD-SE)

? Elstar 透鏡內(nèi) BSE 探測器 (TLD-BSE)

? Elstar 鏡筒內(nèi) SE 探測器 (ICD)

? Elstar 鏡筒內(nèi) BSE 探測器 (MD)

? Everhart-Thornley SE 探測器 (ETD)

? 用于查看樣品/鏡筒的 IR 攝像頭

? 安裝在樣品倉的 Nav-Cam+™

? 伸縮式低壓、高襯度固態(tài)背散射電子探測器 (DBS)

? 帶有 BF/DF/HAADF 分段的伸縮式

STEM 探測器*

? 集成電子束電流測量

樣品倉

? 4 mm 工作距離下的電子束和EDS 重合點

? 21 個端口

超高精度 5 軸壓電式電動載物臺

? X、Y = 100 mm

? Z ≥ 20 mm

? T = - 10°至 + 60°

? R = n x 360°行程

? X、Y 可重復性 0.5μm

? X、Y 準確度 < 1.5μm，85% 容差區(qū)間

? 機械式傾斜共心載物臺，傾斜角度為 0°到 52°時圖像移動小于5μm

? 中心旋轉和傾斜

樣品尺寸

? 大尺寸：直徑 100 mm，旋轉

? 大樣品厚度（通過裝載鎖）：19 mm（含支架）

? 大樣品厚度（通過樣品倉門）：27.8 mm（含樣品支架）

? 重量：200g（含支架）

樣品支架

? 多樣品臺支架

? 多樣品切片支架

? 單樣品臺底座，直接安裝在載物臺上

? 根據(jù)要求提供各種晶圓和定制支架

? 配備 -50V至-4 kV 的載物臺偏置的電子束減速

? 集成的快速電子束熄滅裝置

圖像處理器

? 駐留時間范圍為 0.025 到25000 μs/像素

?  6144 x 4096 像素

? 文件類型：TIFF（8、16、24 位）、BMP或JPEG

? 單幀或四象限圖像顯示

? SmartSCAN（256 幀平均或積分、線積分和平均法、隔行掃描）和DCFI（漂移補償幀積分）

系統(tǒng)控制

? 32位GUI（使用 Windows® XP）、鍵盤、光電鼠標

? 兩臺 24 英寸寬屏 LCD 顯示屏，WUXGA 1,920 x 1,200像素

? 顯微鏡控制和支持計算機無縫共用一個鍵盤和鼠標

? 操縱桿

? 多功能控制臺

? 遠程控制

產(chǎn)品料號	產(chǎn)品貨號	*產(chǎn)品名稱	*產(chǎn)品規(guī)格
TFE000052	TFE000052	Verios XHR SEM掃描電鏡	Verios XHR SEM